涂鍍層測(cè)厚儀是一款利用簡單的磁法對(duì)非鐵性材料進(jìn)行可靠且具有重復(fù)性厚度測(cè)量的便攜式儀器。測(cè)量時(shí)，在被測(cè)材料的一側(cè)按住或移動(dòng)磁探頭，在材料的另一側(cè)放上或在容器里放入一個(gè)小目標(biāo)鋼珠。探頭的霍爾效應(yīng)傳感器測(cè)量探頭端部到目標(biāo)鋼珠的距離。測(cè)量到的距離值被即刻作為厚度讀數(shù)以容易辨讀的大字體彩色數(shù)字形式顯示在屏幕上。

 

　　那么涂鍍層測(cè)厚儀的準(zhǔn)確性會(huì)受哪些因素的影響呢？

 

　　1、邊界間距

 

　　如果探頭與被測(cè)體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規(guī)定的邊界間距，由于磁通或渦流載體截面不夠?qū)?dǎo)致測(cè)量誤差。如必須測(cè)量該點(diǎn)的覆層厚度，只有預(yù)先在相同條件的無覆層表面進(jìn)行校準(zhǔn)，才能測(cè)量。

 

　　2、基體表面曲率

 

　　在一個(gè)平直的對(duì)比試樣上校準(zhǔn)好一個(gè)初始值，然后在測(cè)量覆層厚度后減去這個(gè)初始值。或參照下條。

 

　　3、基體金屬厚度

 

　　基體金屬必須有一個(gè)給定的厚度，使探頭的電磁場(chǎng)能包容在基體金屬中，最小厚度與測(cè)量器的性能及金屬基體的性質(zhì)有關(guān)，在這個(gè)厚度之上剛好可以進(jìn)行測(cè)量而不用對(duì)測(cè)量值修正。對(duì)于基體厚度不夠而產(chǎn)生的影響，可以采取在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決斷，或無法加基材則可以通過與已知覆層厚度的試樣進(jìn)行對(duì)比來確定與額定值的差值。并且在測(cè)量中考慮這點(diǎn)而對(duì)測(cè)量值作相應(yīng)的修正或參考第2條修正。而那些可以標(biāo)定的儀器通過調(diào)整旋鈕或按鍵，便可以得到準(zhǔn)確的直讀厚度值。反之利用厚度太小產(chǎn)生的影響又可以研制直接測(cè)銅箔厚度的儀器。

 

　　4、表面粗糙度和表面清潔度

 

　　在粗糙度表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測(cè)量值必須進(jìn)行多次測(cè)量才行。顯而易見，不論是基體或是覆層，越粗糙，測(cè)量值越不可靠。為獲得可靠的數(shù)據(jù)，基體的平均粗糙度Ra應(yīng)小于覆層厚度的5%。而對(duì)于表面雜質(zhì)，則應(yīng)予去除。有的儀表上下限，以剔除那些“飛點(diǎn)”。